<ruby id="p6p0s"><tbody id="p6p0s"></tbody></ruby>
<b id="p6p0s"></b>
<button id="p6p0s"><code id="p6p0s"><span id="p6p0s"></span></code></button>

<video id="p6p0s"><thead id="p6p0s"></thead></video>
  • <delect id="p6p0s"></delect>
  • <u id="p6p0s"></u>
    1. <video id="p6p0s"><code id="p6p0s"></code></video>
      您好,歡迎進入束蘊儀器(上海)有限公司網站!
      全國服務熱線:17621138977
      束蘊儀器(上海)有限公司
      您現在的位置:首頁 > 產品中心 > > MDP > MDPpro晶圓片晶錠壽命檢測儀

      晶圓片晶錠壽命檢測儀

      • 更新時間:  2024-03-04
      • 產品型號:  MDPpro
      • 簡單描述
      • 晶圓片晶錠壽命檢測儀用于常規質量控制、精密材料研發的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量
      詳細介紹

      Mono- and Multi-crystalline wafer and brick lifetime measurement device

      應用范圍:用于常規質量控制、精密材料研發的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量

       

       

      根據SEMI標準PV9-1110的非接觸式和無損成像(μPCD / MDP(QSS))、光電導性、電阻率和p/n檢查。

      晶圓切割,爐內監控,材料優化等。


      日常壽命測量,質量控制和檢驗
       
      ◆產量:>240塊/天或>720片/天
      ◆測量速度:對于156x156x400mm標準晶錠,<4分鐘
      ◆生產改善:1mm切割標準為156x156x400mm標準晶錠
      ◆質量控制:用于過程和材料的質量監控,如單晶硅或多晶硅
      ◆污染測定:起源于爐和設備的金屬(Fe)
      ◆可靠性:模塊化和堅固耐用的工業儀器,更高的可靠性和運行時間> 99%
      ◆可重復性:> 99.5%
      ◆電阻率:不需要經常校準

      精密材料研發

      鐵濃度測定


      陷阱濃度測定

      硼氧測定

      依賴于注入的測量等

      特性


      *無觸點無破壞的半導體特性
      特殊的“表面之下”壽命測量技術
      不可見缺陷的 靈敏度的可視化
      自動切割標準定義
      空間分辨p/n電導型變換檢測

       


      留言框

      • 產品:

      • 您的單位:

      • 您的姓名:

      • 聯系電話:

      • 常用郵箱:

      • 省份:

      • 詳細地址:

      • 補充說明:

      • 驗證碼:

        請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
      Contact Us
      • 聯系QQ:27228489
      • 聯系郵箱:wei.zhu@shuyunsh.com
      • 傳真:86-021-34685181
      • 聯系地址:上海市松江區千帆路288弄G60科創云廊3號樓602室

      掃一掃  微信咨詢

      ©2024 束蘊儀器(上海)有限公司版權所有  備案號:滬ICP備17028678號-2  技術支持:化工儀器網    網站地圖    總訪問量:98618

      脚底板痛什么原因_А√最新版在线天堂鲁大师_国产性生大片免费观看性_男人扒开添女人下部免费视频